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半導体事業

Semiconductor Equipment Division

化合物ウエハー

GaNウエハー・その他化合物ウエハー

GaNウエハー

窒化ガリウム(GaN)ウエハーの供給やEpi加工まで対応いたします。
5G、6Gなどの基地局向け高周波デバイスや電気自動車向けのパワーデバイス、光源向けの光デバイス等など様々な用途でのご提案をいたします。

主な特性

バンドギャップ:3.4eV
熱伝導率:2.0W/cm-1k
絶縁破壊電圧:3.3MV/cm

GaN自立基板

対応口径:2インチ、4インチ
パワー、高周波、光デバイス向けなど様々な用途のウエハーをご提案いたします。

GaN自立基板 仕様
各種口径対応 2インチ、4インチ
結晶製造方法 HVPE(気相法)、アモノサーマル法
タイプ Nタイプ、半絶縁性、UID(ノンドープ)
厚み 450±30µm
その他対応項目 インゴット販売、研磨加工、洗浄

 

HEMT Epi

対応口径:4~12インチウエハーまで。
Si、SiC、GaN、Sapphireなどのベース基板へGaN Epi成膜加工が可能です。

GaN on Si wafers , d-mode
GaN, 2nm
AlGaN (25% Al), t = 20 nm
GaN, t = 175nm
Buffer GaN, t ≥5um
Si, Dia 150mm
t ≥ 1000 μm
GaN on Si wafers , e-mode
p-GaN, t < 100nm
AlGaN (25% Al), t =15nm/ AlN, 1nm spacer
GaN, t = 175nm
Buffer GaN, t ≥5um
Si, Dia 150mm
t ≥ 1000 μm
GaN HEMT on SiC wafers
GaN, UID, t = 2 nm
AlGaN (24% Al), UID, t = 20nm
AIN spacer, t = 1 nm
GaN (channel), UID, t = 300nm
GaN(C doped), t = 2 μm
Transition layer (AlGaN, 300nm, optional)
Nucleation layer (AIN, <200nm)
Semi-insulating 4H-SiC
Dia 100mm, t ≥300 μm

その他化合物ウエハー

種類 各種口径対応
酸化ガリウム(β-Ga203) 50 ~ 100mm
InP(インジウムリン) 50 ~ 150mm
GaAs(ガリウムヒ素) 100 ~ 200mm
Sapphire(サファイア) 100 ~ 200mm
LT(タンタル酸リチウム) 100 ~ 150mm
LN(ニオブ酸リチウム) 100 ~ 150mm

様々な素材での複合ウェハのご提案も可能です。
InGaAsフォトダイオード、DFBレーザーダイオードのwafer/chipの販売、受託製造も対応しております。
光学/レーザー用その他結晶材料の取り扱いもしております。