化合物ウエハー
        
        GaNウエハー・その他化合物ウエハー
GaNウエハー
窒化ガリウム(GaN)ウエハーの供給やEpi加工まで対応いたします。
5G、6Gなどの基地局向け高周波デバイスや電気自動車向けのパワーデバイス、光源向けの光デバイス等など様々な用途でのご提案をいたします。
主な特性
バンドギャップ:3.4eV
熱伝導率:2.0W/cm-1k
絶縁破壊電圧:3.3MV/cm
GaN自立基板
対応口径:2インチ、4インチ
パワー、高周波、光デバイス向けなど様々な用途のウエハーをご提案いたします。
GaN自立基板 仕様
| 各種口径対応 | 2インチ、4インチ | 
| 結晶製造方法 | HVPE(気相法)、アモノサーマル法 | 
| タイプ | Nタイプ、半絶縁性、UID(ノンドープ) | 
| 厚み | 450±30µm | 
| その他対応項目 | インゴット販売、研磨加工、洗浄 | 
HEMT Epi
対応口径:4~12インチウエハーまで。
Si、SiC、GaN、Sapphireなどのベース基板へGaN Epi成膜加工が可能です。
GaN on Si wafers , d-mode
| GaN, 2nm | 
| AlGaN (25% Al), t = 20 nm | 
| GaN, t = 175nm | 
| Buffer GaN, t ≥5um | 
| Si, Dia 150mm t ≥ 1000 μm  | 
GaN on Si wafers , e-mode
| p-GaN, t < 100nm | 
| AlGaN (25% Al), t =15nm/ AlN, 1nm spacer | 
| GaN, t = 175nm | 
| Buffer GaN, t ≥5um | 
| Si, Dia 150mm t ≥ 1000 μm  | 
GaN HEMT on SiC wafers
| GaN, UID, t = 2 nm | 
| AlGaN (24% Al), UID, t = 20nm | 
| AIN spacer, t = 1 nm | 
| GaN (channel), UID, t = 300nm | 
| GaN(C doped), t = 2 μm | 
| Transition layer (AlGaN, 300nm, optional) | 
| Nucleation layer (AIN, <200nm) | 
| Semi-insulating 4H-SiC Dia 100mm, t ≥300 μm  | 
その他化合物ウエハー
| 種類 | 各種口径対応 | 
| 酸化ガリウム(β-Ga203) | 50 ~ 100mm | 
| InP(インジウムリン) | 50 ~ 150mm | 
| GaAs(ガリウムヒ素) | 100 ~ 200mm | 
| Sapphire(サファイア) | 100 ~ 200mm | 
| LT(タンタル酸リチウム) | 100 ~ 150mm | 
| LN(ニオブ酸リチウム) | 100 ~ 150mm | 
様々な素材での複合ウェハのご提案も可能です。
InGaAsフォトダイオード、DFBレーザーダイオードのwafer/chipの販売、受託製造も対応しております。
光学/レーザー用その他結晶材料の取り扱いもしております。